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보유현황

보유기자재

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보유현황

공동실험실습관 기자재 보유현황-실험실명, 기자재명, 모델명, 제조사
실험실명 기자재명 모델명 제조사
기계적성질
평가실
만능재료시험기
(Universal Testing Machine)
JP/AG-250kNX Shimadzu
시편전처리시스템
(Sample saw System)
nano-tech (주)나노텍
와이어방전가공기
(Wire Electric Discharge Machine)
NW620 대건테크
핵자기공명
기기실
핵자기공명분광분석기
(Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer)
AVANCE 400FT-NMR BRUKER
마이크로CT분석실

탄소/황 분석기
(Cabon/Sulfur Determinator)

CS-200 LECO

마이크로CT

(Industrial CT Scanning

XT H 225 NIKON
열분석실 시차열분석기
(Differential Thermal Analyzer)
TA4100 TA
INSTRUMENT

금속성분분석기

(Spark Emission Spectrometer)

PolySpek Neo ARUN Technology
공초점레이저
현미경실
공초점레이저현미경
(Confocal Laser Scanning Microscope)
DE/LSM-510 CARL ZEISS
3D금속현미경   NIKON
미세비커스경도시험기   Shimadzu
크로마토그래프실 가스크로마토그래프
(Gas Chromatograph)
HP6890NNetwork
GCSystem
Hewlett Packard
질량분석기
(Gas Chromatograph/Mass Spectrometer)
GC 6890 serise Ⅱ/HP Hewlett Packard
분광분석실 분광광도계
(Microspectometer)
GB/Lambda750 Perkin elmer
산소투과도시험기
(Ultra Precision Oxygen Analyzer)
OX-TRANModel2/21 MOCON
유도결합플라즈마분광기
(Inductively Coupled Plasma Spectrometer)
OPTIMA 200DV Perkin Elmer
이온크로마토그래피
(Ion Chromatograph)
ICS-3000
Reagent-Free
DIONEX
자외/가시/근적외선미세분광광도계
(UV/Vis/NIR Microspectrometer)
QDI-1000 CRAIC
전자현미경실 고분해능전계방사형주사전자현미경
(Ultra High Resolution Field Emission Scanning
Electron Microscope)
JSM-7610F JEOL
SEM시편전처리장비
(Cross Section Polisher)
IB-19510CP JEOL
TEM시편전처리장비
(Ion Slicer)
EM091001S JEOL
표면분석실1 전계방사형 주사전자현미경
(Field Emission Scanning Electron Microscope)
JSM-6700F JEOL
표면분석실2 라만분광기
(RAMAN Spectrometer)
NRS-3200 JASCO
전자탐침미세분석기
(Electron Probe Micro Analyzer)
EPMA-1600 Shimadzu
표면프로파일러
(Surface Profiler)
ET-3000i KOSAKA
6층 염소분무시험기
(NaCl Spray Machine)
SE-ST-02 석산테크놀러지
학과 고속카메라
(High Speed Camera)
PhantomV7.3
800X600pixel
Phantom
고온진공열처리로
(Vacuum Furnace)
제작품 ㈜정민실업
멀티센서 3차원 측정기
(3-Dimensional Multi-Sensor)
Video-check
IP 400 3D
Werth
Messtechnik
액체크로마토그래피/질량분석기
(Ultra High Resolution ESI Q-TOF MSMS System)
micro TOF-QⅢ
LC/MS
BRUKER
임피던스 및 재료분석기
(RF Impedance and material analyzer)
1MHz - 3GHz Agilent
Technologies