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보유현황
실험실명 | 기자재명 | 모델명 | 제조사 |
---|---|---|---|
기계적성질 평가실 |
만능재료시험기 (Universal Testing Machine) |
JP/AG-250kNX | Shimadzu |
시편전처리시스템 (Sample saw System) |
nano-tech | (주)나노텍 | |
와이어방전가공기 (Wire Electric Discharge Machine) |
NW620 | 대건테크 | |
핵자기공명 기기실 |
핵자기공명분광분석기 (Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer) |
AVANCE 400FT-NMR | BRUKER |
마이크로CT분석실 |
탄소/황 분석기 |
CS-200 | LECO |
마이크로CT (Industrial CT Scanning |
XT H 225 | NIKON | |
열분석실 | 시차열분석기 (Differential Thermal Analyzer) |
TA4100 | TA INSTRUMENT |
금속성분분석기 (Spark Emission Spectrometer) |
PolySpek Neo | ARUN Technology | |
공초점레이저 현미경실 |
공초점레이저현미경 (Confocal Laser Scanning Microscope) |
DE/LSM-510 | CARL ZEISS |
3D금속현미경 | NIKON | ||
미세비커스경도시험기 | Shimadzu | ||
크로마토그래프실 | 가스크로마토그래프 (Gas Chromatograph) |
HP6890NNetwork GCSystem |
Hewlett Packard |
질량분석기 (Gas Chromatograph/Mass Spectrometer) |
GC 6890 serise Ⅱ/HP | Hewlett Packard | |
분광분석실 | 분광광도계 (Microspectometer) |
GB/Lambda750 | Perkin elmer |
산소투과도시험기 (Ultra Precision Oxygen Analyzer) |
OX-TRANModel2/21 | MOCON | |
유도결합플라즈마분광기 (Inductively Coupled Plasma Spectrometer) |
OPTIMA 200DV | Perkin Elmer | |
이온크로마토그래피 (Ion Chromatograph) |
ICS-3000 Reagent-Free |
DIONEX | |
자외/가시/근적외선미세분광광도계 (UV/Vis/NIR Microspectrometer) |
QDI-1000 | CRAIC | |
전자현미경실 | 고분해능전계방사형주사전자현미경 (Ultra High Resolution Field Emission Scanning Electron Microscope) |
JSM-7610F | JEOL |
SEM시편전처리장비 (Cross Section Polisher) |
IB-19510CP | JEOL | |
TEM시편전처리장비 (Ion Slicer) |
EM091001S | JEOL | |
표면분석실1 | 전계방사형 주사전자현미경 (Field Emission Scanning Electron Microscope) |
JSM-6700F | JEOL |
표면분석실2 | 라만분광기 (RAMAN Spectrometer) |
NRS-3200 | JASCO |
전자탐침미세분석기 (Electron Probe Micro Analyzer) |
EPMA-1600 | Shimadzu | |
표면프로파일러 (Surface Profiler) |
ET-3000i | KOSAKA | |
6층 | 염소분무시험기 (NaCl Spray Machine) |
SE-ST-02 | 석산테크놀러지 |
학과 | 고속카메라 (High Speed Camera) |
PhantomV7.3 800X600pixel |
Phantom |
고온진공열처리로 (Vacuum Furnace) |
제작품 | ㈜정민실업 | |
멀티센서 3차원 측정기 (3-Dimensional Multi-Sensor) |
Video-check IP 400 3D |
Werth Messtechnik |
|
액체크로마토그래피/질량분석기 (Ultra High Resolution ESI Q-TOF MSMS System) |
micro TOF-QⅢ LC/MS |
BRUKER | |
임피던스 및 재료분석기 (RF Impedance and material analyzer) |
1MHz - 3GHz | Agilent Technologies |