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원자현미경(Atomic Force Microscope)
  • 분류 : 공동실험실습관
  • 분석연구원 : 박소희
  • 전화번호 : 043-841-5751
  • 설치장소 : 공동실험실습관 2층 201호 표면분석실Ⅱ
  • 모델명 : XE-100
  • 제조사 : PSIA
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신청불가

분석료

기본사용료 : 60,000원/시료당

장치용도

- 탐침을 이용하여 물질표면의 물리 화학적 구조에 대한 정보를 얻을 수 있는 기기

주요규격

- Contact mode Atomic Force Microscopy(AFM) - Non Contact AFM - Tapping mode AFM - Magenetic Force Microscopy(MFM)

세부분석/특기사항

- 반도체 표면분석 - 하드디스크 - 천연광물 표면 분석 - 폴리머 표면분석