분석료

기본사용료 : 20,000원/시간당

장치용도

딱딱하지 않은 재료와 딱딱한 재료의 복합 재료의 단면 관찰을 위해 전통적인 기계연마법을 사용하지 않고, 성형 되어진 Argon 의 ion beam을 cutting하는 날로서 사용하여 시편 단면을 가공하는 시료 제작기 이다. 특징은 넓은 가공영역과 저 운용비 와 용이한 조작, 배수, 폐액이 없는 환경 친화적 장비이다.CP의 기본 구성은 시료 확인용 광학 현미경, Timer, 진공계, ion beam Controller로 이루어져 있다.

주요규격

1)가속전압(Acce. Voltage) : 2~8kV 2)Ion Beam Diameter : 500um(FWHM)

세부분석/특기사항

SEM 시료가공